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LED芯片與封裝測試的良方
因應全球LED市場發(fā)展，芯片與封裝測試大躍進：以大量同步測試取代單一手動測試 LED照明產品是人類生活之必需品，包含日常燈具、屏幕、車用照明與建筑景觀照明，而智慧調光燈控與健康人因照明，更是現今燈具發(fā)展趨勢，除此之外，全球各地政府積極提倡節(jié)能LED照明以及智能照明解決方案，響應智慧城市、綠能和永續(xù)發(fā)展，再再反映了LED市場的熱度。 |
| 根據 TrendForce《2021全球LED照明市場報告- 照明級封裝與照明產品趨勢（1H21）》顯示，全球LED照明市場發(fā)展樂觀， 2025年預估可達443億美金。 |
| LED照明市場無疑帶動關聯(lián)的上、中、下游產業(yè)發(fā)展，其中，在生產制程及檢測中，芯片與封裝測試為不可忽視的重要環(huán)節(jié)。在各個制程的最終階段，會透過測試電源，進行升溫、調光、老化測試，確認其安全性與精準度。傳統(tǒng)測試方法僅針對單個或數個包裝，手動調整電流進行調光測試，費時又費力，如今使用可編程直流電源，可一次同時測試多個LED芯片，提升測試速率與產能。 |
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實測LED產品老化測試 |
| 我們使用ADG-L可編程直流電源，進行LED產品老化測試。透過遠程計算機， 以Ethernet通訊方式，鏈接恒溫恒濕測試機內串并接好的LED 芯片模塊，提供每個芯片穩(wěn)定的電壓及電流。 |
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| 藉由 ADG-L 專屬的遠程操作軟件，設置編程程序，輸入需求的電壓與電流值，使其重復循環(huán)、自動跳停，并在計算機上同步觀察 LED 芯片的測試結果。 |
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其他LED燈源測試應用 |
| ADG-L系列可針對不同的待測物進行測試，除了上述的LED產品老化測試，業(yè)界也經常使用此機模擬電源輸出擾動，進行LED燈源的漸層測試與閃頻實驗，確認LED燈是否產生降低視覺功能的炫光，達到檢測LED色溫、亮度和調光效果。實際測試狀況，請參考下方ADG-L系列介紹影片。（延伸閱讀：如何使用可編程直流源測試LED燈源） |
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ADG-L系列具優(yōu)秀的電源規(guī)格特性，適用于高電壓或大電流之測試模擬 |
| ADG-L系列是一款可編程高功率密度直流電源，相較于他廠，能在同等級輸出容量中，提供較大的電流，15kW單機具0~135 A、0~1000 V的電流及電壓輸出，并機后最大可達75 kW、675 A，且內建PFC主動功率因子校正，輸出功因可高達0.99。此外，有寬量程輸出選擇，以及定電壓、定電流與定功率模式，提供客戶多元、完善的選擇。多應用于太陽能、電動車、鋰電池、元器件類斷路器、接觸器、保險絲以及實驗室、認證單位等，適合需求高電壓或大電流的測試，提供客戶在產品設計開發(fā)初期的各種模擬，以及產品老化之生產檢測。 蘇州魯儀作為艾普斯電源一級供貨平臺，可免費提供樣機試用，我們持續(xù)提供客戶可靠且精準的產品解決方案，協(xié)助客戶打造優(yōu)質產品，一同迎向美好未來！ |
